Microscopio ad emissione di campo FE-SEM di classe UHR Tescan UHR FE-SEM MAGNA
Il microscopio elettronico TESCAN MAGNA UHR FE-SEM rappresenta il sistema ideale di caratterizzazione superficiale di nanomateriali in particolare alle basse e bassissime tensioni di accelerazione ed in modalità STEM. Il microscopio TESCAN MAGNA eccelle quindi nella caratterizzazione di materiali catalizzatori, nanotubi, nanoparticelle e strutture prefabbricate con dimensioni nanometriche quali i circuiti integrati di ultima generazione.
Specifiche Tecniche
ISO 9001-14001
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