Tescan UHR FE-SEM CLARA microscopio ad emissione di campo FE-SEM di classe UHR
Microscopio ad emissione di campo Tescan FE-SEMMR FE-SEM CLARA
Tescan UHR FE-SEM CLARA microscopio ad emissione di campo FE-SEM di classe UHR
Descrizione
Il nuovissimo UHR FE-SEM TESCAN CLARA è un microscopio elettronico a scansione ad ultra-alta risoluzione progettato per garantire elevatissime performance di imaging e di analisi sui più diversi campioni nelle più diverse condizioni operative. Il SEM è dotato dell’innovativa tecnologia BrightBeamTM che combina una lente obiettivo elettrostatica/elettromagnetica con un sistema di rivelazione di nuova concezione. Il design della lente permette di lavorare ad altissima risoluzione anche alle bassissime tensioni di accelerazione (fino a 50eV). In aggiunta, il nuovo sistema di rivelatori permette la selezione dei segnali raccolti secondo il loro angolo di take off o la loro energia, garantendo in questo modo la raccolta di nuove informazioni sulla topografia e sulla natura chimica del campione. Il FE-SEM CLARA è uno strumento altamente versatile, ideale per la caratterizzazione dei nanomateriali, per rigorosi controlli qualitativi su prodotti ed elevato contenuto tecnologico e per l’industria dei semiconduttori.
Specifiche Tecniche
- Tipologia emettitore: di tipo Schottky termoassistita
- Risoluzione: 0,9 nm @ 15kV – 1,4 nm @ 1 kV
