Leica EM TIC 3X ION MILLING

Leica EM TIC 3X ION MILLING

Sistema di preparazione ad elevatissima qualità usato per la successiva osservazione e microanaslisi  con SEM (EDS, WDS, EBSD, CL) e AFM

 

Anno di fabbricazione

2020

Leica EM TIC 3X ION MILLING

Descrizione

Sistema di preparazione di sezioni trasversali di alta qualità con grandi aree di 4 > 1 mm

Tavolino per campioni multipli in grado di processare diversi campioni in un’unica operazione

Inserimento di campioni di dimensioni fino a 50 x 50 x 10 mm o fino a 38 mm di diametro per l’elaborazione

Montaggio e allineamento dei campioni facile e accurato

Funzionamento semplice tramite touch-screen, non sono necessarie competenze specifiche

Monitoraggio del processo tramite stereomicroscopio o telecamera HD-TV

Illuminazione a LED controllata a quattro segmenti per una visione e un allineamento ottimali dei campioni

Miglioramento del contrasto a 90° rispetto alla superficie preparata

Utilizzabile con ogni materiale, lo stadio di raffreddamento permette di raggiungere temperature della maschera e del campione fino a -160 °C

Upload e download di parametri e programmi su chiavetta USB

Flusso di lavoro ottimizzato che consente di risparmiare tempo di interazione tra utente e strumento

Leica EM TIC 3X ION MILLING

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