Leica EM TIC 3X ION MILLING
Leica EM TIC 3X ION MILLING
Sistema di preparazione ad elevatissima qualità usato per la successiva osservazione e microanaslisi con SEM (EDS, WDS, EBSD, CL) e AFM
Anno di fabbricazione
Leica EM TIC 3X ION MILLING
Descrizione
Sistema di preparazione di sezioni trasversali di alta qualità con grandi aree di 4 > 1 mm
Tavolino per campioni multipli in grado di processare diversi campioni in un’unica operazione
Inserimento di campioni di dimensioni fino a 50 x 50 x 10 mm o fino a 38 mm di diametro per l’elaborazione
Montaggio e allineamento dei campioni facile e accurato
Funzionamento semplice tramite touch-screen, non sono necessarie competenze specifiche
Monitoraggio del processo tramite stereomicroscopio o telecamera HD-TV
Illuminazione a LED controllata a quattro segmenti per una visione e un allineamento ottimali dei campioni
Miglioramento del contrasto a 90° rispetto alla superficie preparata
Utilizzabile con ogni materiale, lo stadio di raffreddamento permette di raggiungere temperature della maschera e del campione fino a -160 °C
Upload e download di parametri e programmi su chiavetta USB
Flusso di lavoro ottimizzato che consente di risparmiare tempo di interazione tra utente e strumento