Leica Res 102 ion milling

Ion milling per applicazioni Sem e Tem per superfici di elevatissima qualità

Leica Res 102 ion milling

Descrizione

LEICA RES 102 Ion Milling per superfici di alta qualità

Una ampia gamma  di supporti per campioni consente di coprire  una vasta gamma di applicazioni. Oltre alla preparazione  a fascio di ioni,  Leica EM RES102 può essere utilizzato anche per la preparazione  di campioni molto delicati utilizzando  basse energie  oppure raffreddando il campione con un dispositivo cryo.

Leica Res 102 ion milling

Documenti

TipoNomeDimensione
Leica portfolio proddi Em Sample Preparation1,48 MBScarica
Application note3,24 MBScarica

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