Leica EM TIC 3X ION MILLING

Leica EM TIC 3X ION MILLING

Sistema di preparazione ad elevatissima qualità usato per la successiva osservazione e microanaslisi  con SEM (EDS, WDS, EBSD, CL) e AFM

QUOTAZIONE SU RICHIESTA

Leica EM TIC 3X ION MILLING

Anno di fabbricazione

2020
Leica EM TIC 3X ION MILLING

Descrizione

Sistema di preparazione di sezioni trasversali di alta qualità con grandi aree di 4 > 1 mm

Tavolino per campioni multipli in grado di processare diversi campioni in un’unica operazione

Inserimento di campioni di dimensioni fino a 50 x 50 x 10 mm o fino a 38 mm di diametro per l’elaborazione

Montaggio e allineamento dei campioni facile e accurato

Funzionamento semplice tramite touch-screen, non sono necessarie competenze specifiche

Monitoraggio del processo tramite stereomicroscopio o telecamera HD-TV

Illuminazione a LED controllata a quattro segmenti per una visione e un allineamento ottimali dei campioni

Miglioramento del contrasto a 90° rispetto alla superficie preparata

Utilizzabile con ogni materiale, lo stadio di raffreddamento permette di raggiungere temperature della maschera e del campione fino a -160 °C

Upload e download di parametri e programmi su chiavetta USB

Flusso di lavoro ottimizzato che consente di risparmiare tempo di interazione tra utente e strumento

Leica EM TIC 3X ION MILLING

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